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文章概述：1. 金属探测器：
金属探测器是一种常用的检测针状颗粒的仪器。它利用电磁感应原理，可以检测到杂质中的金属颗粒。金属探测器通常采用射频技术，可以对通过传送带的物料进行连续检
1. 金属探测器：
金属探测器是一种常用的检测针状颗粒的仪器。它利用电磁感应原理，可以检测到杂质中的金属颗粒。金属探测器通常采用射频技术，可以对通过传送带的物料进行连续检测。当有金属颗粒进入探测范围时，探测器会发出警报，并停止传送带的运动，以便及时处理有问题的物料。
2. X射线检测仪：
X射线检测仪是一种高精度的检测仪器，可以用于检测针状颗粒。它利用X射线的穿透能力，可以在非破坏性条件下对物料进行检测。X射线检测仪能够检测到不同密度的杂质，包括针状颗粒等。当有异常物体通过时，X射线检测仪会发出警报，并将图像传输给操作员进行分析和判别。
3. 光学显微镜：
光学显微镜是一种常见的仪器，可以用于检测细小的针状颗粒。它通过放大显微物镜下的物体，可以观察到高清晰度的图像。光学显微镜适用于实验室环境中的样品观察和分析，可以帮助检测到微小的针状颗粒，并进行进一步的分析。
