内容页头部

整理态检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:以下是常用的仪器和设备:
1. 激光剥蚀电离飞行时间质谱仪(LD-TOF-MS):用于分析材料表面的纯度和混杂物的分布情况。
2. X射线衍射仪(XRD):用于分析晶体材料的结构和组成。
3. 扫描

以下是常用的仪器和设备:

1. 激光剥蚀电离飞行时间质谱仪(LD-TOF-MS):用于分析材料表面的纯度和混杂物的分布情况。

2. X射线衍射仪(XRD):用于分析晶体材料的结构和组成。

3. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察材料表面的形貌和微观结构。

4. 透射电子显微镜(TEM):用于观察材料的原子级细节和结构。

5. 红外光谱仪(FTIR):用于分析材料的化学成分和它们之间的键合情况。

6. 紫外可见分光光度计(UV-Vis):用于测量材料对紫外和可见光的吸收和透射。

7. 热重分析仪(TGA):用于分析材料的热稳定性和热分解特性。

8. 差示扫描量热仪(DSC):用于测量材料的热容量和热性质。

9. 核磁共振仪(NMR):用于分析材料中的核磁共振信号,以确定化学结构。

10. 晶体生长仪:用于培养和研究晶体的生长过程。

整理态检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所