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文章概述：1. 粒度分析器：用于测量物料的粒度分布，常见的有激光粒度分析器和干式粒度分析器。
2. 粒度筛分仪：通过一定大小的筛孔对物料进行筛分，常见的有振动筛和旋流筛。
3. 控制系统：用
1. 粒度分析器：用于测量物料的粒度分布，常见的有激光粒度分析器和干式粒度分析器。
2. 粒度筛分仪：通过一定大小的筛孔对物料进行筛分，常见的有振动筛和旋流筛。
3. 控制系统：用于监测和控制制粒过程中的参数，例如温度、湿度、压力等。
4. 振动仪器：用于检测制粒系统中的振动情况，以排除故障和判断设备运行情况。
5. 电子天平：用于测量物料的质量或重量，以控制制粒过程中的配料和投料。
6. 显微镜：用于观察和分析粒子的形貌和结构特征。
