检测项目

几何尺寸检测：

• 边长公差：长度偏差±0.01mm、宽度偏差±0.01mm（参照ISO 1101）
• 角度偏差：直角误差≤0.05°、阵列平行度偏差±0.02°
• 平整度检测：表面起伏度≤0.005mm、翘曲度测量

光学性能检测：

• 分辨率测试：MTF值≥0.8（空间频率50lp/mm）、对比度损失≤5%
• 透光率分析：可见光波段透射率≥95%、反射率≤1%
• 色彩均匀性：ΔE色差≤2.0、亮度偏差±5%

材料特性检测：

• 硬度测试：维氏硬度HV≥500、洛氏硬度HRC≥55
• 热稳定性：热膨胀系数≤5×10⁻⁶/K、高温变形量测量
• 成分分析：硅含量≥99.99%、杂质元素偏差±0.001wt%

电气性能检测：

• 信号响应：像素响应时间≤10ms、暗电流≤1nA
• 阻抗测量：电阻值偏差±1Ω、电容稳定性测试
• 功耗评估：工作电流≤50mA、待机功耗测量

环境耐受性检测：

• 温度循环：-40℃至85℃循环100次无失效、温度冲击测试
• 湿度测试：RH95%下暴露96小时无腐蚀、凝露试验
• 振动冲击：10g加速度振动耐久、冲击能量≥50J

缺陷分析检测：

• 像素缺陷：坏点数≤5个/cm²、暗点检测
• 裂纹检测：裂纹长度≤0.005mm、显微裂纹分析
• 异物检验：颗粒尺寸≤1μm、异物密度测量

表面处理检测：

• 涂层厚度：镀膜厚度0.1μm±0.01μm、膜层均匀性
• 粗糙度评估：Ra值≤0.1μm、表面光泽度≥90GU
• 附着力测试：划格法附着力≥4B、剥离强度测量

结构完整性检测：

• 抗弯强度：弯曲载荷≥100N、断裂韧性测试
• 压缩性能：压缩变形≤0.1mm、压缩强度≥200MPa
• 疲劳寿命：循环次数≥10⁶次、应力松弛测量

化学稳定性检测：

• 耐腐蚀性：盐雾试验48小时无锈蚀、酸碱浸泡测试
• 氧化抵抗：氧化层厚度≤0.02μm、抗氧化等级
• 溶剂兼容性：乙醇浸泡稳定性、溶剂侵蚀评估

辐射性能检测：

• UV耐受：UV照射500小时无黄变、辐射衰减测量
• 红外响应：红外波段透过率≥90%、热辐射测试
• 电磁兼容：EMI屏蔽效率≥30dB、辐射干扰测量

检测范围

1. CMOS图像传感器： 涵盖背照式及前照式结构，重点检测像素阵列几何精度、暗电流控制及量子效率

2. LCD显示屏： 包括TFT及IPS面板，侧重像素间距一致性、色彩均匀性及背光透射率

3. 光学镜头组件： 适用于定焦及变焦镜头，检测曲面分幅平整度、MTF值及镜头畸变

4. 半导体晶圆： 硅基及化合物半导体，重点评估晶格缺陷、表面粗糙度及掺杂均匀性

5. 微透镜阵列： 用于光束整形器件，检测透镜曲率半径、焦距偏差及光斑均匀性

6. 投影仪DMD芯片： 数字微镜器件，侧重微镜角度精度、反射率稳定性及热漂移

7. 印刷电路板（PCB）： 高密度互联板，重点检测焊盘阵列对齐度、阻抗匹配及热膨胀

8. 光学滤光片： 带通及截止滤光片，检测透射光谱斜率、截止深度及膜层厚度

9. 触摸屏传感器： 电容及电阻式，侧重电极网格几何偏差、触控灵敏度及线性度

10. 激光刻蚀元件： 微加工表面，检测刻线宽度公差、深度一致性及边缘锐度

检测方法

国际标准：

• ISO 12233:2017 电子静像相机分辨率测试
• ISO 10110-5:2015 光学元件表面缺陷检测
• ASTM E112-13 金属平均晶粒度测定
• IEC 60512-99-001:2020 电子连接器环境测试
• JIS Z 2241:2011 维氏硬度试验方法

国家标准：

• GB/T 18910.61-2012 液晶显示器光电参数测试
• GB/T 13962-2009 光学仪器术语及检验方法
• GB/T 228.1-2021 金属材料拉伸试验
• GB/T 2423.17-2008 电子产品盐雾试验
• GB/T 7997-2014 硬质合金硬度测试

方法差异说明：国际标准ISO 12233与国家标准GB/T 18910.61在分辨率测试网格密度上存在差异（ISO使用SFR方法，GB使用MTF法）；ASTM E112与GB/T 228.1在晶粒度评级的取样区域大小不同（ASTM要求更大样本）；IEC 60512与GB/T 2423.17在湿度测试的温控精度上偏差±2℃。

检测设备

1. 光学坐标测量机： O-INSPJianCe 322型（测量精度±0.001mm，行程300mm×300mm）

2. 高分辨率显微镜： ZEISS AXIO IMAGER M2型（放大倍数50x-1000x，分辨率0.1μm）

3. 光谱辐射计： EVERFINE LFA-2000型（波长范围380nm-780nm，精度±0.5nm）

4. 电子万能试验机： SHIMADZU AGX-V型（载荷范围0.01kN-50kN，应变速率0.0001s⁻¹）

5. 环境试验箱： ESPEC T-240型（温度范围-70℃至180℃，湿度控制RH10%-98%）

6. 表面粗糙度仪： MITUTOYO SURFTEST SJ-410型（分辨率0.01μm，测量长度100mm）

7. 显微硬度计： FUTURE-TECH FM-700型（载荷范围10gf-1000gf，压头类型Vickers）

8. 影像测量仪： OLYMPUS STM7型（CCD分辨率5MP，软件精度0.005mm）

9. 热分析仪： NETZSCH STA 449型（温度范围RT-1600℃，升温速率0.1℃/min）

10. 电化学工作站： CHI660E型（电流范围±250mA，电位分辨率0.1mV）

11. 激光干涉仪： ZYGO GPI-XP型（波长632.8nm，平面度分辨率λ/100）

12. 振动测试系统： LDS V890型（频率范围5Hz-5kHz，加速度100g）

13. 紫外老化箱： Q-LAB QUV/spray型（UV波长340nm，辐照度0.68W/m²）

14. 颗粒计数器： PAMAS S40型（粒径范围0.2μm-400μm，计数精度±3%）

15. 红外热像仪： FLIR T1020型（热灵敏度≤20mK，分辨率1024×768）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。