内容页头部

正型光刻胶检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:1. 反射式红外光谱仪:用于测量光刻胶的化学成分和分析其中的有机化合物。
2. 热分析仪:可用于测量光刻胶的热稳定性、热分解温度和热物性。
3. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察光刻

1. 反射式红外光谱仪:用于测量光刻胶的化学成分和分析其中的有机化合物。

2. 热分析仪:可用于测量光刻胶的热稳定性、热分解温度和热物性。

3. 扫描电子显微镜(SEM):用于观察光刻胶的表面形貌、膜厚和纹理等。

4. 显微拉曼光谱仪:可以分析光刻胶的分子结构、晶体结构和化学键信息。

5. 粒度分析仪:用于测量光刻胶中颗粒的粒径分布和平均粒径。

6. 红外显微镜:可用于检测光刻胶中的颗粒污染,以及红外吸收谱图的检测。

7. 光学薄膜测量仪:可用于测量光刻胶薄膜的透过率、反射率和折射率等光学参数。

8. 激光粒度仪:可用于测量光刻胶分散液中颗粒的粒径分布和粒子浓度。

正型光刻胶检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所