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右仪表面罩检测仪器

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文章概述:光学显微镜:用于观察仪表面罩的表面情况,如是否有裂纹、划痕等。
扫描电子显微镜(SEM):用于观察仪表面罩的微观形貌,可检测表面的粗糙度、凹凸等情况。
图像分析仪:用于对仪表面罩

光学显微镜:用于观察仪表面罩的表面情况,如是否有裂纹、划痕等。

扫描电子显微镜(SEM):用于观察仪表面罩的微观形貌,可检测表面的粗糙度、凹凸等情况。

图像分析仪:用于对仪表面罩的图像进行分析,包括颜色均匀性、纹理等特征。

拉力测试机:用于测试仪表面罩的拉伸强度、断裂强度等力学性能。

冲击测试机:用于测试仪表面罩的耐冲击性能,包括承受冲击载荷的能力和不破裂或不破碎的能力。

紫外光源:用于检测仪表面罩的紫外透光性能,可确定其对紫外光的阻挡效果。

可见光透射测量仪:用于测量仪表面罩的可见光透过率,也称为光彩透明度。

红外透射测量仪:用于测量仪表面罩的红外透过率,也称为红外透明度。

右仪表面罩检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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