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杂质分布检测仪器

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文章概述:1. 激光粒度分析仪:用于测量杂质在不同粒径范围内的分布情况。通过激光束照射样品,根据散射光的角度和强度变化,可以得到杂质的粒径分布信息。
2. 傅里叶变换红外光谱仪(FT-IR):用

1. 激光粒度分析仪:用于测量杂质在不同粒径范围内的分布情况。通过激光束照射样品,根据散射光的角度和强度变化,可以得到杂质的粒径分布信息。

2. 傅里叶变换红外光谱仪(FT-IR):用于检测样品中有机和无机杂质的类型和相对含量。通过将样品置于红外光束中,在不同波长范围内测量样品吸收或散射的光谱,可以得到样品组成的指纹图谱。

3. 原子吸收光谱仪(AAS):用于测量样品中金属元素的含量。通过将样品制备成溶液,然后将溶液中的金属元素原子化,在特定波长下测量吸收光谱,可以确定金属元素的浓度。

4. 气相色谱-质谱联用仪(GC-MS):用于检测样品中有机杂质的种类和相对含量。通过将样品溶解、蒸发并分离成气相样品,然后通过气相色谱柱分离样品中的组分,再通过质谱仪对分离的组分进行定性和定量分析。

杂质分布检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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