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无源红外仪检测

检测项目

1.温度范围测量:-40℃至3000℃,精度0.5%读数或1℃(取较大值)2.波长响应范围:8μm-14μm长波红外波段3.噪声等效温差(NETD):≤40mK@25℃4.空间分辨率:1.1mrad至3.5mrad可调5.响应时间:≤15ms(95%信号稳定)

检测范围

1.半导体材料:晶圆表面温度分布与热阻特性分析2.高分子聚合物:注塑成型过程的热变形监测3.金属涂层:镀层厚度与热传导系数关联性研究4.生物组织:皮肤表面温度场成像与病理诊断5.建筑材料:外墙保温系统热桥效应评估

检测方法

1.ASTME1256-17《StandardTestMethodsforRadiationThermometers》2.ISO18434-1:2008《Conditionmonitoringanddiagnosticsofmachines-Thermography》3.GB/T19870-2018《工业检测型红外热像仪》4.GB/T13301-2019《金属材料高温拉伸试验方法》关联热成像校准5.IEC62464-1:2016《Medicalelectricalequipment-CharacteristicsofdigitalX-rayimagingdevices》红外兼容性测试

检测设备

1.FLIRT1030sc:1024768像素分辨率,支持10Hz高速测温2.Testo885-2:配备SuperResolution技术提升至320240像素3.HikmicroB10:集成激光测距功能的双光融合红外热像仪4.KeysightU5855A:TrueIR系列手持式热像仪,支持-20℃至1500℃宽温域5.NECTH9100:多光谱分析模块实现物质成分识别6.OptrisPI640i:25Hz帧频与2℃测温精度工业级设备7.InfraTecImageIR8300:640512像素制冷型中波红外相机8.SATIRGD200:防爆型红外热像仪(ATEX/IECEx认证)9.WuhanGuideGP720:国产高精度科研级红外成像系统10.XenicsGobi-640-GigE:非制冷长波红外相机(NETD<50mK)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

无源红外仪检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。