低硅微碳铬铁检测
检测项目
铬含量:测定范围60.0-70.0%,精度±0.05%(依据GB/T 223.11标准)
碳含量:测定范围0.01-0.10%,精度±0.001%(ASTM E1019规范)
硅含量:测定范围0.10-1.00%,精度±0.005%(ISO 4934要求)
硫含量:测定范围0.001-0.050%,精度±0.0002%(GB/T 223.68方法)
磷含量:测定范围0.005-0.050%,精度±0.0003%(ISO 6830规程)
铁含量:测定范围25.0-35.0%,精度±0.1%(ASTM E415标准)
锰含量:测定范围0.01-0.50%,精度±0.002%(GB/T 223.64规范)
铝含量:测定范围0.01-0.50%,精度±0.003%(ISO 10280方法)
钛含量:测定范围0.001-0.050%,精度±0.0005%(ASTM E2371标准)
铜含量:测定范围0.001-0.100%,精度±0.0004%(GB/T 223.53规程)
镍含量:测定范围0.001-0.100%,精度±0.0003%(ISO 4937规范)
铅含量:测定范围0.0001-0.0100%,精度±0.00005%(ASTM E1834方法)
砷含量:测定范围0.0001-0.0050%,精度±0.00003%(GB/T 223.31标准)
密度:测定范围6.50-7.50 g/cm³,精度±0.005 g/cm³(ISO 3369规程)
硬度:测定范围100-300 HB,精度±2 HB(ASTM E10标准)
粒度分布:测定范围0.01-50.0 mm,D50精度±0.1 mm(ISO 13320规范)
水分含量:测定范围0-1.00%,精度±0.005%(ISO 760方法)
表观孔隙率:测定范围0-5.0%,精度±0.1%(GB/T 1423标准)
热稳定性:温度范围20-1000°C,精度±1°C(ASTM E831规程)
磁性性能:磁导率测定范围1-100 H/m,精度±0.5%(ISO 2178规范)
检测范围
铸造工业用低硅微碳铬铁块状材料(粒度20-100mm)
炼钢炉添加剂低硅微碳铬铁颗粒(规格0.5-10mm)
不锈钢生产专用低硅微碳铬铁合金(铬含量≥65%)
工具钢制造用高纯度低硅微碳铬铁(碳含量≤0.05%)
粉末冶金应用低硅微碳铬铁粉末(粒度0.1-100μm)
特殊合金添加剂低硅微碳铬铁(杂质元素控制S≤0.01%)
出口贸易标准低硅微碳铬铁(符合国际ISO规范)
工业级低硅微碳铬铁废料回收材料(用于再生冶炼)
实验室校准用低硅微碳铬铁标准样品(均匀性±0.1%)
耐磨材料组件低硅微碳铬铁基体(硬度≥200 HB)
高温合金用低硅微碳铬铁预合金粉(热稳定性测试)
电子工业溅射靶材低硅微碳铬铁(纯度≥99.9%)
汽车零部件涂层低硅微碳铬铁粉(粒度D90≤50μm)
航空航天结构件用低硅微碳铬铁复合材料(密度6.8 g/cm³)
核工业屏蔽材料低硅微碳铬铁块(辐射稳定性要求)
化工催化剂载体低硅微碳铬铁颗粒(孔隙率≤1%)
建筑耐蚀钢添加低硅微碳铬铁(硫含量控制≤0.005%)
海洋工程用低硅微碳铬铁合金(耐盐雾腐蚀测试)
医疗植入物材料低硅微碳铬铁(生物相容性评估)
能源设备电极用低硅微碳铬铁(导电性参数)
检测方法
光电发射光谱法:依据ASTM E415测定铬、铁、锰等主元素含量
高频红外吸收法:依据GB/T 223.71测定碳含量和硫含量
重量分析法:依据ISO 4934测定硅含量和铝含量
电感耦合等离子体原子发射光谱法:依据ASTM E2371测定硫、磷、钛等微量元素
X射线荧光光谱法:依据GB/T 223.11测定铬含量和镍含量
滴定分析法:依据ISO 6830测定铁含量和铜含量
激光衍射粒度分析法:依据ISO 13320测定粒度分布参数
密度瓶浸没法:依据GB/T 1423测定密度和表观孔隙率
布氏硬度测试法:依据ASTM E10测定材料硬度值
卡尔费休库仑法:依据ISO 760测定水分含量精度
热重分析法:依据ASTM E831测定热稳定性和失重率
磁导率测量法:依据ISO 2178测定磁性性能参数
原子吸收光谱法:依据GB/T 223.64测定铅、砷等痕量元素
扫描电子显微镜法:依据ISO 22489测定表面形貌和孔隙结构
电感耦合等离子体质谱法:依据ASTM D5673测定超低含量杂质元素
离子色谱法:依据GB/T 33345测定可溶性离子残留
压力浸渗法:依据ISO 3369测定孔隙率和密度相关性
振动样品磁强计法:依据ASTM A342测定磁性能指标
热膨胀系数测试法:依据ISO 11359测定温度稳定性
金相显微镜法:依据GB/T 13298测定微观结构和相组成
检测设备
光电直读光谱仪Model SPJianCeROLAB M10:用于多元素同时分析,精度±0.01%,波长范围170-800nm
高频红外碳硫分析仪Model CS-9000:测定碳硫含量,精度±0.0001%,温度控制±1°C
X射线荧光光谱仪Model XRF-2000:元素定量分析,分辨率<0.001%,检测限0.01ppm
电感耦合等离子体发射光谱仪Model ICP-OES 5500:微量元素测定,检出限0.001ppm,动态范围106
激光粒度分析仪Model LS-13320:粒度分布测试,范围0.01-3500μm,重复性±0.5%
布氏硬度计Model HB-5000:硬度测定,载荷范围1-3000kgf,精度±0.5HB
密度测定仪Model DENSIMETER Pro:密度和孔隙率测量,精度±0.001 g/cm³,样品尺寸0-100mm
水分测定仪Model KF-TITRATOR V20:卡尔费休法水分分析,精度±0.001%,滴定速度0.1μL/s
热重分析仪Model TGA-800:热稳定性测试,温度范围RT-1500°C,精度±0.1μg
磁导率测试系统Model MAGNETO-100:磁性性能测定,频率范围10Hz-100kHz,精度±0.1%
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。