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电子元件外壳抗压强度测试

检测项目

力学性能检测:

  • 抗压强度测试:最大承载压力(MPa)、变形量(mm)(参照ISO 604)
  • 屈服强度测试:屈服点压力(MPa≥50)、弹性模量(GPa)
  • 压缩变形率:永久变形百分比(%)
硬度测试:
  • 洛氏硬度:硬度值(HRC≥40)
  • 维氏硬度:硬度值(HV)
环境适应性测试:
  • 温度循环试验:温度范围(-40°C至85°C)、循环次数(10次)
  • 湿度测试:相对湿度(95% RH)、持续时间(48小时)
冲击抗力测试:
  • 冲击强度:冲击能量(J)、破裂阈值(参照ASTM D256)
  • 动态压缩测试:加载速率(mm/min)
尺寸稳定性测试:
  • 压缩恢复率:恢复百分比(%≥90)(参照GB/T 1041)
  • 蠕变测试:长期压力(MPa)、变形量(mm)
材料成分分析:
  • 元素含量检测:C、Si、Mn百分比(±0.05wt%)
  • 密度测量:密度值(g/cm³)
表面特性检测:
  • 粗糙度测试:Ra值(μm≤0.8)
  • 涂层附着力:剥离强度(N/cm≥10)
老化性能测试:
  • UV老化试验:照射时间(500小时)、强度保持率(%≥80)
  • 热老化测试:温度(100°C)、时间(168小时)
电气性能测试:
  • 绝缘电阻:电阻值(MΩ≥100)
  • 击穿电压:电压值(kV≥5)
疲劳寿命测试:
  • 循环压缩试验:循环次数(10^6次)、退化率(%≤5)

检测范围

1. 塑料外壳:ABS、PC等高分子材料,重点检测高温软化点和抗压变形率。

2. 金属外壳:铝合金、不锈钢等合金材质,侧重屈服强度和耐腐蚀性能。

3. 复合材料外壳:碳纤维增强塑料等层状结构,检测层间剪切强度和压缩性能。

4. 陶瓷外壳:氧化铝、氮化硅等脆性材质,关注破裂强度和微裂纹扩展。

5. 橡胶密封外壳:硅橡胶、EPDM等弹性体,测试压缩永久变形和恢复性。

6. 涂层外壳:电镀或喷涂表面处理,重点检测涂层硬度和附着力。

7. 电子封装外壳:IC封装等微型结构,强调抗冲击性和尺寸稳定性。

8. 玻璃外壳:强化玻璃等透明材质,评估抗压脆性和光学变形。

9. 生物基材料外壳:PLA等环保聚合物,侧重降解抗性和力学强度。

10. 纳米复合材料外壳:纳米粒子增强结构,检测纳米尺度变形和强化效果。

检测方法

国际标准:

  • ISO 604:2002 塑料压缩性能测定(加载速率1-5 mm/min)
  • ASTM D695-15 刚性塑料压缩试验(加载速率范围宽)
  • ISO 2248:1985 包装完整件压缩试验
国家标准:
  • GB/T 1041-2008 塑料压缩性能测定(标准加载速率2 mm/min)
  • GB/T 4857.4-2008 包装运输压缩试验(模拟堆叠场景)
  • GB/T 228.1-2021 金属材料拉伸试验(适配压缩变形分析)
差异说明:ISO 604规定加载速率1-5 mm/min,GB/T 1041限定2 mm/min;ASTM D695允许可变速率,GB标准更强调环境模拟一致性。

检测设备

1. 万能试验机:UTM-5000型(载荷范围0.1-500kN,精度±0.5%)

2. 硬度计:HR-150A型(洛氏硬度标尺HRC,测试力150kgf)

3. 环境试验箱:ETC-300型(温度范围-70°C至150°C,湿度10-98%RH)

4. 冲击试验机:IT-200型(最大冲击能量50J,摆锤角度180°)

5. 尺寸测量仪:DM-100型(精度±0.01mm,量程0-200mm)

6. 光谱仪:SP-XRF型(元素检测限0.001%,波长范围0.1-100nm)

7. 表面粗糙度仪:SR-50型(测量范围Ra 0.05-10μm,分辨率0.001μm)

8. 老化试验箱:UV-1000型(UV强度0.85W/m²,辐照面积0.5m²)

9. 电气测试仪:ET-500型(电压范围0-50kV,电流精度±1%)

10. 疲劳试验机:FT-1000型(频率范围0.1-100Hz,最大载荷100kN)

11. 蠕变测试仪:CT-50型(长期载荷保持时间0-1000h,温度控制±1°C)

12. 显微镜:DM-4000M型(放大倍数50×-1000×,数字成像系统)

13. 湿度发生器:HG-200型(湿度精度±2%RH,流量10L/min)

14. 温度冲击箱:TS-300型(温度切换时间<10s,范围-65°C至150°C)

15. 压缩夹具:CF-100型(样品直径范围5-50mm,材质硬化钢)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

电子元件外壳抗压强度测试
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。