检测项目
焦距测量：精度±0.1mm，测量范围50-2000mm
波前像差分析：RMS值≤λ/20（λ=632.8nm）
MTF测试：空间频率0-200lp/mm，对比度阈值≥30%
光轴偏移量：检测灵敏度±2μm
透射率均匀性：允许偏差±0.5%
检测范围
光学玻璃元件：包括球面/非球面透镜、棱镜等
工程塑料透镜：适用于AR/VR设备光学模组
镀膜元件：抗反射膜、分光膜的膜层均匀性检测
红外光学材料：锗、硒化锌等材料的8-14μm波段检测
微透镜阵列：单元尺寸50-500μm的阵列一致性验证
检测方法
自准直法（ISO 10110-5）：采用分划板与CCD成像系统组合测量焦距
干涉测量法（ASTM E903）：使用ZYGO干涉仪进行波前分析
刀口扫描法（ISO 14999-4）：检测光学系统像差分布
光电探测法（GB/T 12085）：通过光电传感器阵列测量光强分布
莫尔条纹法（JIS B7090）：用于微结构光学元件的相位检测
检测设备
TriOptics MultiLens MTF测试仪：支持双通道MTF测量，重复精度±0.5%
ZYGO Verifire MST干涉仪：4D动态干涉技术，分辨率0.1nm RMS
Optikos LensCheck Pro：集成波前传感器与自适应光学系统
Newport AutoAlign校准系统：六轴自动对准，定位精度0.5μm
Ophir BeamGage激光分析仪：12bit CMOS传感器，采样率1MHz
技术优势
CNAS认可实验室（编号L1234），符合ISO/IEC 17025体系要求
配备Class 100洁净检测环境，温控精度±0.5℃
溯源至NIST标准，测量不确定度≤0.03%
自主研发的OptiQC Pro分析软件通过德国PTB认证
持证检测人员占比100%，其中高级工程师12人
