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针状相检测仪器

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文章概述:针状相检测主要用于检测金属材料中的针状杂质或缺陷。
常用的仪器包括:
1. 穿透式X射线检测仪:使用高能X射线穿透材料,通过检测射线通过的程度来判断材料中是否含有针状杂质。

针状相检测主要用于检测金属材料中的针状杂质或缺陷。

常用的仪器包括:

1. 穿透式X射线检测仪:使用高能X射线穿透材料,通过检测射线通过的程度来判断材料中是否含有针状杂质。

2. 超声波检测仪:使用超声波探测材料中的针状缺陷,通过测量超声波的传播时间和振幅变化来判断针状缺陷的存在。

3. 磁粉检测仪:利用磁场引起的磁粉颗粒在材料表面形成磁粉沉积,通过观察磁粉沉积的分布来检测针状缺陷。

4. 激光扫描显微镜:利用激光扫描材料表面,通过检测激光在针状杂质处反射的光信号来判断材料中的针状杂质。

针状相检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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