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再拉道次检测仪器

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文章概述:1. 厚度计:用于测量物体的厚度,可以检测材料的厚度,如金属板、薄膜等。
2. 分析天平:用于精确测量物体的质量,可以检测物质的含量、浓度等。
3. 酸碱度计:用于测量溶液的酸碱度,可

1. 厚度计:用于测量物体的厚度,可以检测材料的厚度,如金属板、薄膜等。

2. 分析天平:用于精确测量物体的质量,可以检测物质的含量、浓度等。

3. 酸碱度计:用于测量溶液的酸碱度,可以检测物质的酸碱性。

4. 熔点仪:用于测量物质的熔点,可以检测物质的纯度和结晶性。

5. 燃烧仪:用于测定物质的燃点、燃烧温度和燃烧性质,可以检测物质的燃烧特性。

6. 表面粗糙度仪:用于测量物体表面的粗糙度,可以检测物体的表面质量。

7. X射线衍射仪:用于分析物质的结晶结构和元素成分,可以检测物质的组成和晶体结构。

8. UV-Vis分光光度计:用于测量物质的吸收和透过性,可以检测物质的浓度和光学性质。

9. 气相色谱仪:用于分离和检测物质的组分,可以检测物质的纯度和成分。

10. 核磁共振仪(NMR):用于分析物质的分子结构和化学环境,可以检测物质的分子结构和化学性质。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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