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正态曲线检测仪器

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文章概述:高精度天平:用于称量样品的重量。
光谱仪:用于测量样品在不同波长下的光谱特征。
测量仪器:如测量显微镜、激光测量仪等,用于测量样品的尺寸和形状等特征。
气体色谱仪:用于分析

高精度天平:用于称量样品的重量。

光谱仪:用于测量样品在不同波长下的光谱特征。

测量仪器:如测量显微镜、激光测量仪等,用于测量样品的尺寸和形状等特征。

气体色谱仪:用于分析样品中各种气体成分的含量。

质谱仪:用于分析和鉴定样品中的化学成分。

紫外-可见光谱仪:用于测量样品在紫外和可见光波段的吸收、反射和透射特性。

红外光谱仪:用于测量样品在红外波段的吸收、反射和透射特性。

核磁共振仪:用于分析样品中的原子核磁共振谱。

电化学分析仪:用于测量和分析样品中的电化学特性。

流动注射分析仪:用于自动化地分析和测量样品中的溶解物。

正态曲线检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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