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再结晶程度检测方法

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文章概述:再结晶程度检测是通过对材料的晶体结构、晶粒大小和晶界情况进行分析,来评估材料的再结晶程度。以下是常用的再结晶程度检测方法:
1. 金相显微镜检测:利用金相显微镜观察材料的

再结晶程度检测是通过对材料的晶体结构、晶粒大小和晶界情况进行分析,来评估材料的再结晶程度。以下是常用的再结晶程度检测方法:

1. 金相显微镜检测:利用金相显微镜观察材料的晶体形貌和晶粒尺寸,再结晶后的晶粒尺寸相对较小,晶体结构规则。

2. X射线衍射分析:通过测量材料的X射线衍射图样,分析晶体的晶格常数、晶胞参数和晶体取向等,进一步评估再结晶程度。

3. 电子背散射衍射:利用电子背散射仪器,观察材料在电子束照射下的衍射图样,分析晶体的晶界密度和晶胞形状,评估材料的晶粒再结晶程度。

4. 织构分析:通过测量材料的织构衍射图样或织构极图,分析晶体的取向分布和晶体取向偏好性,判断晶体的再结晶程度。

5. EBSD(电子背散射衍射)技术:利用电子背散射仪器和高分辨率电子显微镜,通过对材料的晶体取向和晶粒方向进行定量分析,来评估材料的再结晶程度。

再结晶程度检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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