内容页头部

正面检测方法

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:正面检测方法用于评估工件正面的外观、形貌与缺陷,适用于板带、印刷与涂装等表面质量控制。

检测项目

1.表面缺陷:划痕,凹坑,裂纹等。

2.表面粗糙度:Ra,Rz,Rmax等。

3.表面平整度:平面度,波纹度,翘曲度等。

4.颜色一致性:色差,光泽度,色调等。

5.涂层厚度:膜厚,镀层厚度,涂层均匀性等。

6.印刷质量:套印精度,网点清晰度,色密度等。

7.外观缺陷:气泡,杂质,桔皮等。

8.边缘质量:毛刺,崩边,倒角等。

9.清洁度:油污,残留物,颗粒物等。

10.反光特性:反射率,镜面光泽,漫反射等。

11.尺寸精度:长度偏差,宽度偏差,对角线等。

检测范围

原材料样品、半成品样品、成品样品、部件样品、组件样品、元件样品、加工样品、试制样品、量产样品、召回样品、环境模拟样品、失效复现样品、对比基准样品、批量随机样品、客户送检样品

检测仪器

1.表面粗糙度仪:用于测量正面粗糙度参数;支持Ra/Rz/Ry多种参数评定。

2.光学显微镜:用于观察正面微观缺陷;具备明暗场与偏光观察。

3.激光共焦显微镜:用于三维表面形貌测量;支持纳米级Z轴分辨率。

4.色差仪:用于测量正面颜色一致性;支持CIE Lab色彩空间。

5.光泽度计:用于测量正面光泽度;支持多角度光泽测量。

6.涂层测厚仪:用于测量正面涂层厚度;支持磁性涡流双原理。

7.平整度测量仪:用于测量正面平面度;具备激光扫描与非接触测量。

8.机器视觉检测系统:用于正面外观自动检测;支持AOI缺陷识别。

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

正面检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所