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造型平板检测仪器

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文章概述:1. 光学三坐标测量仪:用于对造型平板的尺寸进行精确测量,能够提供各种形状和曲面的三维几何参数。
2. 轮廓投影仪:通过投射光线和轮廓仪的成像系统,对造型平板的形状和轮廓进行

1. 光学三坐标测量仪:用于对造型平板的尺寸进行精确测量,能够提供各种形状和曲面的三维几何参数。

2. 轮廓投影仪:通过投射光线和轮廓仪的成像系统,对造型平板的形状和轮廓进行检测和分析。

3. 影像测量仪:利用高分辨率的相机和图像处理软件,对造型平板的表面形貌和几何特征进行无接触式测量和分析。

4. 脱机测量仪:采用激光扫描技术,通过激光束在物体表面的反射来获取造型平板的三维坐标信息。

造型平板检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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