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杂质状态检测仪器

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文章概述:以下是常用于杂质状态检测的仪器:
1. 显微镜:用于观察物质的微观结构和杂质的形态和分布情况。
2. 红外光谱仪:通过检测物质在红外光谱区域的吸收特征,分析物质的组成和杂质的存

以下是常用于杂质状态检测的仪器:

1. 显微镜:用于观察物质的微观结构和杂质的形态和分布情况。

2. 红外光谱仪:通过检测物质在红外光谱区域的吸收特征,分析物质的组成和杂质的存在。

3. 紫外-可见分光光度计:用于测量物质在紫外和可见光区域的吸收光谱,判断杂质的存在。

4. 热重分析仪:通过检测物质随温度变化的质量变化情况,分析物质中杂质的含量和性质。

5. X射线衍射仪:通过物质衍射出的X射线来分析物质的结晶性和杂质的存在。

6. 气相色谱仪:用于分离和检测物质中的杂质,可以获得杂质的种类和含量。

7. 能谱仪:通过探测不同能量的射线,分析物质中的放射性杂质。

8. 压电质谱仪:用于检测物质中的杂质元素,并根据质谱图分析杂质的类型。

杂质状态检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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