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整体沉箱结构检测仪器

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文章概述:1. 层析成像仪:通过扫描仪器将X射线或γ射线经过被测物体后的衰减信息转化为图像,从而检测出整体沉箱结构的内部缺陷或异物。
2. 超声波检测仪:利用超声波在物质中传播的速度和

1. 层析成像仪:通过扫描仪器将X射线或γ射线经过被测物体后的衰减信息转化为图像,从而检测出整体沉箱结构的内部缺陷或异物。

2. 超声波检测仪:利用超声波在物质中传播的速度和衰减等特性,检测出整体沉箱结构中的裂缝、变形和材料变化等问题。

3. 磁粉探伤仪:通过磁力产生磁通对被检测物体进行磁化,然后在表面涂覆磁粉,通过观察磁粉在裂纹或缺陷处的堆积情况来判断整体沉箱结构是否存在裂纹或缺陷。

4. 硬度计:用于测量整体沉箱结构材料的硬度,以判断材料的强度和耐用性。

5. 粗糙度测量仪:通过测量整体沉箱结构表面的粗糙度,判断其表面质量和加工精度。

整体沉箱结构检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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