内容页头部

遮蔽检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:遮蔽检测主要用于检测物体表面的遮蔽层或薄膜的存在与质量情况。
常用的遮蔽检测仪器包括:
1. 遮蔽厚度计:用于测量遮蔽层的厚度,通常采用非接触式的无损测量原理,如光学干涉法

遮蔽检测主要用于检测物体表面的遮蔽层或薄膜的存在与质量情况。

常用的遮蔽检测仪器包括:

1. 遮蔽厚度计:用于测量遮蔽层的厚度,通常采用非接触式的无损测量原理,如光学干涉法、X射线法、电容法等。

2. 遮蔽剥离强度测试仪:用于测量遮蔽层在受力作用下的剥离强度,通常采用拉伸或剪切测试方法。

3. 多光谱扫描仪:用于对物体表面进行多波段的光谱扫描,通过分析扫描结果来判断遮蔽层的存在与质量。

4. 遮蔽性能分析仪:利用电磁波的传输特性对物体进行测试,可以测量遮蔽层对电磁波的屏蔽效果,如电磁干扰屏蔽材料测试仪。

5. 表面粗糙度测试仪:用于检测遮蔽层的表面粗糙度,常用方法包括激光散斑法、光栅法、电容法等。

遮蔽检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所