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细粒选粒检测仪器

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文章概述:激光粒度分析仪:用于测量细粒的粒度分布,检测范围通常为 0.1 微米至几百微米。
显微镜:可用于观察细粒的形状、大小和结构,检测范围取决于显微镜的放大倍数。
筛分仪:用于将细粒

激光粒度分析仪:用于测量细粒的粒度分布,检测范围通常为 0.1 微米至几百微米。

显微镜:可用于观察细粒的形状、大小和结构,检测范围取决于显微镜的放大倍数。

筛分仪:用于将细粒按照不同的粒度范围进行筛分,检测范围取决于筛网的孔径。

比重计:可测量细粒的比重,检测范围根据比重计的型号和精度而定。

X 射线衍射仪:用于分析细粒的晶体结构,检测范围取决于仪器的分辨率和灵敏度。

细粒选粒检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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