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文章概述：X 射线衍射分析：用于确定细粒结构的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察细粒结构的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜（TEM）：用于研究细粒结构的内部结构和晶体缺陷。
X 射线衍射分析：用于确定细粒结构的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察细粒结构的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜（TEM）：用于研究细粒结构的内部结构和晶体缺陷。
粒度分析：通过测量颗粒的大小分布来评估细粒结构。
比表面积测定：确定细粒结构的表面积。
热分析：如差示扫描量热法（DSC）或热重分析（TGA），用于研究细粒结构的热性能。
X 射线荧光光谱分析（XRF）：可测定细粒结构中的元素组成。
红外光谱分析：用于分析细粒结构中的化学键和官能团。
拉曼光谱分析：提供关于细粒结构的分子振动信息。
电子探针微分析（EPMA）：可进行元素的微区分析。
