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细晶粒度检测仪器

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文章概述:比较法:比较法是通过与标准图谱进行对比来评定晶粒度的方法。这种方法简单易行,但需要有标准图谱作为参考。
面积法:面积法是通过测量晶粒的面积来评定晶粒度的方法。这种方法

比较法:比较法是通过与标准图谱进行对比来评定晶粒度的方法。这种方法简单易行,但需要有标准图谱作为参考。

面积法:面积法是通过测量晶粒的面积来评定晶粒度的方法。这种方法可以直接测量晶粒的大小,但需要使用显微镜等设备。

截点法:截点法是通过测量晶界上的截点数来评定晶粒度的方法。这种方法可以快速测量晶粒度,但需要使用专门的测量仪器。

细晶粒度检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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