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物探剖面检测仪器

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文章概述:浅层地震仪:用于探测地下地质结构和地层分布。
地质雷达:可以探测地下物体、空洞和地质结构。
电法仪:用于测量地下电阻率,了解地下地质情况。
磁法仪:测量地下磁场,用于地质勘探

浅层地震仪:用于探测地下地质结构和地层分布。

地质雷达:可以探测地下物体、空洞和地质结构。

电法仪:用于测量地下电阻率,了解地下地质情况。

磁法仪:测量地下磁场,用于地质勘探和矿产资源探测。

重力仪:测量重力加速度,用于研究地下密度分布。

物探剖面检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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