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物理情况检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:长度测量:游标卡尺、千分尺、投影仪等,用于测量物体的长度、直径、厚度等尺寸。
质量测量:天平、电子秤等,用于测量物体的质量。
密度测量:密度计,用于测量物体的密度。
硬度测量:

长度测量:游标卡尺、千分尺、投影仪等,用于测量物体的长度、直径、厚度等尺寸。

质量测量:天平、电子秤等,用于测量物体的质量。

密度测量:密度计,用于测量物体的密度。

硬度测量:硬度计,用于测量物体的硬度。

温度测量:温度计,用于测量物体的温度。

压力测量:压力计,用于测量物体的压力。

流量测量:流量计,用于测量液体或气体的流量。

位移测量:位移传感器,用于测量物体的位移。

速度测量:速度传感器,用于测量物体的速度。

加速度测量:加速度传感器,用于测量物体的加速度。

力测量:测力计,用于测量物体所受的力。

扭矩测量:扭矩传感器,用于测量物体所受的扭矩。

振动测量:振动传感器,用于测量物体的振动情况。

噪声测量:噪声计,用于测量环境或设备的噪声水平。

光泽度测量:光泽度计,用于测量物体表面的光泽度。

颜色测量:色差仪,用于测量物体的颜色差异。

表面粗糙度测量:粗糙度仪,用于测量物体表面的粗糙度。

电磁测量:示波器、频谱分析仪等,用于测量电磁信号的特性。

光学测量:显微镜、分光光度计等,用于观察和分析物体的光学特性。

物理情况检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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