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无隙覆层检测仪器

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文章概述:超声波测厚仪:用于测量覆层的厚度。
X 射线荧光光谱仪:可分析覆层的元素组成。
电子显微镜:观察覆层的微观结构。
色差仪:检测覆层的颜色差异。
硬度计:测量覆层的硬度。
附着力

超声波测厚仪:用于测量覆层的厚度。

X 射线荧光光谱仪:可分析覆层的元素组成。

电子显微镜:观察覆层的微观结构。

色差仪:检测覆层的颜色差异。

硬度计:测量覆层的硬度。

附着力测试仪:评估覆层与基体的附着力。

粗糙度测试仪:分析覆层表面的粗糙度。

光泽度仪:测定覆层的光泽度。

热重分析仪:研究覆层的热稳定性。

红外光谱仪:分析覆层的化学结构。

无隙覆层检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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