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无反射结构检测方法

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:X 射线检测:可用于检测无反射结构的内部缺陷、裂纹等。
超声波检测:适用于检测无反射结构的厚度、缺陷等。
磁粉检测:可检测无反射结构表面或近表面的缺陷。
渗透检测:用于检测

X 射线检测:可用于检测无反射结构的内部缺陷、裂纹等。

超声波检测:适用于检测无反射结构的厚度、缺陷等。

磁粉检测:可检测无反射结构表面或近表面的缺陷。

渗透检测:用于检测无反射结构表面开口缺陷。

光学显微镜检测:可观察无反射结构的微观组织和表面形貌。

电子显微镜检测:提供更高分辨率的微观结构信息。

热成像检测:检测无反射结构的温度分布,发现异常热点。

激光扫描检测:可快速获取无反射结构的三维形状和表面特征。

无反射结构检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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