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无包层铜带屏蔽检测方法

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:外观检查:通过目视观察,检查屏蔽层的外观是否平整、无明显缺陷和损伤。
尺寸测量:使用量具测量屏蔽层的厚度、宽度等尺寸,确保符合设计要求。
电阻测试:使用电阻测试仪测量屏蔽层

外观检查:通过目视观察,检查屏蔽层的外观是否平整、无明显缺陷和损伤。

尺寸测量:使用量具测量屏蔽层的厚度、宽度等尺寸,确保符合设计要求。

电阻测试:使用电阻测试仪测量屏蔽层的电阻值,以评估其导电性。

屏蔽效果测试:采用特定的测试设备或方法,检测屏蔽层对电磁干扰的屏蔽效果。

材料分析:对屏蔽层的材料进行分析,确定其成分和性能。

无包层铜带屏蔽检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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