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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体结构的衍射图谱来检测沃特拉位错。
电子显微镜法：直接观察材料中的位错结构。
原子力显微镜法：可用于检测表面的位错。
光学显微镜法：在某些情况下可
X 射线衍射法：通过分析晶体结构的衍射图谱来检测沃特拉位错。
电子显微镜法：直接观察材料中的位错结构。
原子力显微镜法：可用于检测表面的位错。
光学显微镜法：在某些情况下可观察到位错。
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