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文章概述：X 射线衍射仪：通过测量晶体对 X 射线的衍射图案，确定晶体的结构和位向。
电子背散射衍射仪：用于分析材料的晶体取向和微观结构。
光学显微镜：可以观察材料的表面形貌和组织结构，
X 射线衍射仪：通过测量晶体对 X 射线的衍射图案，确定晶体的结构和位向。
电子背散射衍射仪：用于分析材料的晶体取向和微观结构。
光学显微镜：可以观察材料的表面形貌和组织结构，但对位向的检测精度较低。
扫描电子显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌图像，并可通过电子衍射技术进行位向分析。
