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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
扫描电子显微镜：可观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能提供高分辨率的表面形貌和力学信息。
透射电子显微镜：用于位错的微观结
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
扫描电子显微镜：可观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能提供高分辨率的表面形貌和力学信息。
透射电子显微镜：用于位错的微观结构分析。
硬度测试仪：间接评估位错攀移力对材料硬度的影响。
