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文章概述：X 射线衍射仪：用于检测晶体结构中的位错和扭折。
扫描电子显微镜：可以观察材料表面的微观结构，包括位错和扭折。
透射电子显微镜：提供高分辨率的微观结构图像，有助于检测位错和扭
X 射线衍射仪：用于检测晶体结构中的位错和扭折。
扫描电子显微镜：可以观察材料表面的微观结构，包括位错和扭折。
透射电子显微镜：提供高分辨率的微观结构图像，有助于检测位错和扭折。
原子力显微镜：可用于测量材料表面的形貌和力学性质，对位错和扭折进行检测。
