内容页头部

位受控检测方法

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:位受控检测是一种用于检测数字电路中单个位的状态的测试方法。它通常用于集成电路的测试和故障诊断。
在位受控检测中,测试系统会向被测试的电路施加特定的输入信号,并观察输

位受控检测是一种用于检测数字电路中单个位的状态的测试方法。它通常用于集成电路的测试和故障诊断。

在位受控检测中,测试系统会向被测试的电路施加特定的输入信号,并观察输出信号的状态。通过比较预期的输出信号和实际的输出信号,可以确定电路中是否存在故障。

位受控检测可以检测数字电路中的各种故障,例如短路、开路、逻辑错误等。它可以帮助工程师快速定位故障,并采取相应的修复措施。

位受控检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所