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文章概述：扫描电子显微镜（SEM）：可以提供高分辨率的表面形貌图像，用于观察位垒的形状和结构。
原子力显微镜（AFM）：能够测量位垒的高度、宽度和粗糙度等参数。
X 射线衍射（XRD）：用于分析位垒的晶
扫描电子显微镜（SEM）：可以提供高分辨率的表面形貌图像，用于观察位垒的形状和结构。
原子力显微镜（AFM）：能够测量位垒的高度、宽度和粗糙度等参数。
X 射线衍射（XRD）：用于分析位垒的晶体结构和取向。
光学显微镜：可用于初步观察位垒的形状和特征。
