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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体结构中的衍射图案来确定位错的存在和运动。
电子显微镜法：利用电子束对样品进行成像，直接观察位错的形态和运动。
原子力显微镜法：通过测量探针与样品
X 射线衍射法：通过分析晶体结构中的衍射图案来确定位错的存在和运动。
电子显微镜法：利用电子束对样品进行成像，直接观察位错的形态和运动。
原子力显微镜法：通过测量探针与样品表面之间的相互作用力来研究位错。
光学显微镜法：在特定条件下，可以观察到位错引起的晶体表面的特征。
