因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同，相应的参考标准请咨询在线工程师！
文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的类型和密度。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构。
原子力显微镜法：可以在位错尺度上进行高分辨率成像。
光学显微镜法：
X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的类型和密度。
电子显微镜法：直接观察晶体中的位错结构。
原子力显微镜法：可以在位错尺度上进行高分辨率成像。
光学显微镜法：在一定条件下可以观察到位错的存在。
上一篇：位错线张力检测方法