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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错的密度和分布。
电子显微镜观察：直接观察位错的形态和分布。
正电子湮没谱：测量位错附近的电子密度，推断位错的存在和数量。
X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错的密度和分布。
电子显微镜观察：直接观察位错的形态和分布。
正电子湮没谱：测量位错附近的电子密度，推断位错的存在和数量。
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