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文章概述：X 射线衍射法：通过分析晶体结构的衍射图谱，检测位错的存在和分布。
电子显微镜法：直接观察材料中的位错结构和形态。
原子力显微镜法：可用于研究位错的表面形貌和力学性质。
正
X 射线衍射法：通过分析晶体结构的衍射图谱，检测位错的存在和分布。
电子显微镜法：直接观察材料中的位错结构和形态。
原子力显微镜法：可用于研究位错的表面形貌和力学性质。
正电子湮没法：检测位错周围的缺陷和应变场。
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