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文章概述：SEM：扫描电子显微镜，用于观察电极表面形貌。
EDS：能量色散谱仪，用于分析电极表面元素组成。
BET：比表面积分析仪，用于测定电极的比表面积。
XRD：X 射线衍射仪，用于分析电极的晶体结
SEM：扫描电子显微镜，用于观察电极表面形貌。
EDS：能量色散谱仪，用于分析电极表面元素组成。
BET：比表面积分析仪，用于测定电极的比表面积。
XRD：X 射线衍射仪，用于分析电极的晶体结构。
ICP-OES：电感耦合等离子体发射光谱仪，用于测定电极中金属元素的含量。
RAMAN：拉曼光谱仪，用于分析电极的化学键和结构。
XPS：X 射线光电子能谱仪，用于分析电极表面的化学组成和化学键。
