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伪各向同性检测方法

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文章概述:X 射线衍射法:通过测量晶体对 X 射线的衍射图案,分析材料的晶体结构和取向。
中子衍射法:利用中子与原子核的相互作用,研究材料的晶体结构和磁结构。
电子背散射衍射法:通过测量

X 射线衍射法:通过测量晶体对 X 射线的衍射图案,分析材料的晶体结构和取向。

中子衍射法:利用中子与原子核的相互作用,研究材料的晶体结构和磁结构。

电子背散射衍射法:通过测量电子在晶体中的散射图案,确定晶体的取向和织构。

超声波检测法:利用超声波在材料中的传播特性,检测材料的内部缺陷和组织结构。

光学显微镜法:通过观察材料的微观结构,分析其晶体取向和缺陷。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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