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文章概述：韦斯近似法检测通常使用 X 射线衍射仪进行。X 射线衍射仪可以测量晶体结构和晶格参数，从而确定材料的相组成和晶体结构。
韦斯近似法检测通常使用 X 射线衍射仪进行。X 射线衍射仪可以测量晶体结构和晶格参数，从而确定材料的相组成和晶体结构。
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