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微粒物检测仪器

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文章概述:电子显微镜:用于观察和分析微粒物的形态、大小和结构。
激光粒度分析仪:测量微粒物的粒度分布。
显微镜图像分析系统:对微粒物进行图像采集和分析。
扫描电子显微镜(SEM):提供高分

电子显微镜:用于观察和分析微粒物的形态、大小和结构。

激光粒度分析仪:测量微粒物的粒度分布。

显微镜图像分析系统:对微粒物进行图像采集和分析。

扫描电子显微镜(SEM):提供高分辨率的微粒物表面形貌信息。

X 射线衍射仪:分析微粒物的晶体结构。

原子力显微镜(AFM):用于研究微粒物的表面特性和微观结构。

能谱仪(EDS):与 SEM 或其他显微镜结合,进行微粒物的元素分析。

动态光散射仪:测量微粒物在溶液中的粒径分布和粒度变化。

Zeta 电位分析仪:测定微粒物的表面电荷性质。

热重分析仪(TGA):分析微粒物的热稳定性和成分。

微粒物检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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