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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：可观察微晶粒的表面形貌和尺寸。
透射电子显微镜：能提供更高分辨率的晶体结构信息。
粒度分析仪：用于测量微晶粒的粒
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：可观察微晶粒的表面形貌和尺寸。
透射电子显微镜：能提供更高分辨率的晶体结构信息。
粒度分析仪：用于测量微晶粒的粒度分布。
X 射线荧光光谱仪：可分析微晶粒中的元素组成。
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