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文章概述：扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜（TEM）：能够提供更高分辨率的微观结构信息。
原子力显微镜（AFM）：可用于测量表面形貌、粗糙度和力学性质。
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扫描电子显微镜（SEM）：用于观察材料的表面形貌和微观结构。
透射电子显微镜（TEM）：能够提供更高分辨率的微观结构信息。
原子力显微镜（AFM）：可用于测量表面形貌、粗糙度和力学性质。
扫描隧道显微镜（STM）：适用于研究原子和分子的表面结构。
光学显微镜：常用于观察较大尺寸的微观结构。
