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微光束方法检测方法

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文章概述:微光束方法检测是一种用于分析材料微观结构和成分的技术。
它通过将一束细小的电子束或离子束聚焦在样品表面上,然后测量反射、散射或发射的信号来获取信息。
该方法可以用于

微光束方法检测是一种用于分析材料微观结构和成分的技术。

它通过将一束细小的电子束或离子束聚焦在样品表面上,然后测量反射、散射或发射的信号来获取信息。

该方法可以用于检测材料的晶体结构、化学成分、表面形貌等。

它具有高分辨率、高灵敏度和非破坏性等优点,适用于各种材料的分析。

微光束方法检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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