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文章概述：扫描电子显微镜（SEM）：可用于观察材料的微观结构、表面形貌和成分分析。
透射电子显微镜（TEM）：能够提供高分辨率的微观结构图像和成分信息。
X 射线衍射（XRD）：用于确定材料的晶体结构
扫描电子显微镜（SEM）：可用于观察材料的微观结构、表面形貌和成分分析。
透射电子显微镜（TEM）：能够提供高分辨率的微观结构图像和成分信息。
X 射线衍射（XRD）：用于确定材料的晶体结构和相组成。
能量色散 X 射线光谱（EDS）：可进行元素分析和成分鉴定。
电子探针微区分析（EPMA）：能对微小区域进行元素成分分析。
原子力显微镜（AFM）：用于研究材料的表面形貌和微观结构。
拉曼光谱：可分析材料的分子结构和化学键。
红外光谱：适用于有机材料的结构和成分分析。
热重分析（TGA）：用于研究材料的热稳定性和成分变化。
差示扫描量热法（DSC）：可分析材料的热性能和相变。
