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微封装检测范围

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文章概述:微封装检测是一种针对微小封装器件进行的检测方法,主要用于确保封装器件的质量和可靠性。常见的微封装检测对象包括但不限于:集成电路芯片:如微处理器、存储器等。传感器:如压力

微封装检测是一种针对微小封装器件进行的检测方法,主要用于确保封装器件的质量和可靠性。

常见的微封装检测对象包括但不限于:

集成电路芯片:如微处理器、存储器等。

传感器:如压力传感器、温度传感器等。

光电器件:如发光二极管、激光二极管等。

射频器件:如滤波器、放大器等。

微机电系统(MEMS):如加速度计、陀螺仪等。

封装材料:如封装树脂、封装胶等。

引线键合:如金线、铝线等。

封装结构:如封装尺寸、封装形式等。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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