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文章概述：电子显微镜：可用于观察材料中的完全位错结构和分布。
X 射线衍射仪：通过分析 X 射线衍射图谱，确定材料中的晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：可用于检测材料表面的微观结构，包
电子显微镜：可用于观察材料中的完全位错结构和分布。
X 射线衍射仪：通过分析 X 射线衍射图谱，确定材料中的晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：可用于检测材料表面的微观结构，包括完全位错。
扫描隧道显微镜：能够提供原子级分辨率的图像，用于观察完全位错的细节。
