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外延硅检测范围

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文章概述:外延硅检测主要应用于半导体行业,用于检测外延硅的质量和性能。常见的外延硅检测对象包括但不限于:外延硅晶圆:用于制造半导体器件的基础材料。外延硅层:外延硅晶圆上的一层薄硅

外延硅检测主要应用于半导体行业,用于检测外延硅的质量和性能。

常见的外延硅检测对象包括但不限于:

外延硅晶圆:用于制造半导体器件的基础材料。

外延硅层:外延硅晶圆上的一层薄硅。

外延硅器件:如晶体管、二极管等。

外延硅芯片:用于集成电路制造的芯片。

外延硅外延片:用于外延生长的硅片。

外延硅衬底:用于外延生长的基底材料。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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