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外部尺寸检测方法

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文章概述:卡尺测量:适用于测量较小尺寸的物体,精度较高。
千分尺测量:可用于测量更精确的尺寸,常用于精密加工领域。
投影仪测量:通过投影放大物体,进行尺寸测量。
三坐标测量机:可对复杂形

卡尺测量:适用于测量较小尺寸的物体,精度较高。

千分尺测量:可用于测量更精确的尺寸,常用于精密加工领域。

投影仪测量:通过投影放大物体,进行尺寸测量。

三坐标测量机:可对复杂形状的物体进行三维尺寸测量。

激光测距仪:适用于远距离或不易接触的物体尺寸测量。

外部尺寸检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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